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      產品詳細頁

      鍍層測厚儀

      簡要描述:鍍層測厚儀滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求,φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求,高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm,采用高度定位激光,可自動定位測試高度等特點!

      • 產品型號:TX-200
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2024-01-16
      • 訪  問  量:2865

      產品介紹

      鍍層測厚儀
      型號:
      TX-200
      元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
      一次可同時分析zui多24個元素,五層鍍層。
      分析檢出限可達2ppm,zui薄可測試0.005μm。
      分析含量一般為2ppm99.9% 。
      鍍層厚度一般在50μm以內每種材料有所不同
      任意多個可選擇的分析和識別模型。
      相互獨立的基體效應校正模型。
      多變量非線性回收程序
      多次測量重復性可達0.1%
      長期工作穩定性可達0.1%
      度適應范圍為1530。
      電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。

      鍍層測厚儀技術指標


      滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
      φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
      高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
      采用高度定位激光,可自動定位測試高度
      定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
      鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點
      高分辨率探頭使分析結果更加精準
      良好的射線屏蔽作用
      測試口高度敏感性傳感器保護


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